Deep Learning for Postharvest Decay Prediction in Apples

Оригинальное название

Deep Learning for Postharvest Decay Prediction in Apples

Статусы доказательств

relation_layer

D — контекст

relation_confidence

2 — сильная связь

relevance_status

Включено

body_status

Фрагмент или аннотация

doi_status

Подтверждено

access_status

Только метаданные

expert_review

Включено

verification_status

Метаданные проверены

Подробности

year

2021

type

Доклад конференции

venue

IECON 2021 – 47th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society

DOI

10.1109/iecon48115.2021.9589498

Персоны

• Nikita Stasenko
• Maxim Savinov
• Valeriy Burlutskiy
• Mariia Pukalchik
• Andrey Somov

Темы

• Калибровка и валидация
• Экспериментальная база
• Прогнозирование и поддержка решений
• ГИС и дистанционное зондирование

Источники

• IEEE proceedings record and exact-profile abstract: postharvest apple decay prediction, 2021

Внешние ссылки

• https://doi.org/10.1109/iecon48115.2021.9589498