S000858IEEE proceedings record and exact-profile abstract: postharvest apple decay prediction, 2021Подробностиsource_classИздательauthority_levelВторичный источникaccessed_at2026-07-29https://doi.org/10.1109/iecon48115.2021.9589498ПубликацииDeep Learning for Postharvest Decay Prediction in ApplesСообщить об исправлении для этой записи