Deep Learning for improving the storage process: Accurate and automatic segmentation of spoiled areas on apples

Оригинальное название

Deep Learning for improving the storage process: Accurate and automatic segmentation of spoiled areas on apples

Статусы доказательств

relation_layer

D — контекст

relation_confidence

2 — сильная связь

relevance_status

Включено

body_status

Фрагмент или аннотация

doi_status

Подтверждено

access_status

Только метаданные

expert_review

Включено

verification_status

Метаданные проверены

Подробности

year

2021

type

Доклад конференции

venue

2021 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)

DOI

10.1109/i2mtc50364.2021.9460071

Персоны

• Nikita Stasenko
• Elizaveta Chernova
• Dmitrii Shadrin
• George Ovchinnikov
• И. П. Криволапов
• Mariia Pukalchik

Темы

• Калибровка и валидация
• Экспериментальная база
• Прогнозирование и поддержка решений
• ГИС и дистанционное зондирование

Источники

• IEEE proceedings record and exact-profile abstract: spoiled-area segmentation in apples, 2021

Внешние ссылки

• https://doi.org/10.1109/i2mtc50364.2021.9460071