S000857IEEE proceedings record and exact-profile abstract: spoiled-area segmentation in apples, 2021Подробностиsource_classИздательauthority_levelВторичный источникaccessed_at2026-07-29https://doi.org/10.1109/i2mtc50364.2021.9460071ПубликацииDeep Learning for improving the storage process: Accurate and automatic segmentation of spoiled areas on applesСообщить об исправлении для этой записи